MakeLSI 2015 岸本提出分、テストパターンについて
2015/Sep/16 岸本誠

クリティカルパスはパッド番号（以下、単にNo.とする）57のCiからNo.51のCoなので、
そのそれぞれで、予想される最悪のパターン（※）での立ち上がりと立ち下がりの時間を
測定してください。それぞれ4パターン作成しました。
(単純な「パターン1」の測定だけでもかまいません)

(※) 全桁の入力がキャリーをLまたはHに確定 → 全桁でキャリーは伝搬

・入力が固定されているべきパッド
 ・No.56 (VDD) -- 十分に低いインピーダンスで H に固定
 ・No.58 (Gnd) -- 十分に低いインピーダンスで L に固定

・測定対象以外の出力パッド
 ・No.52, 53, 54, 55 (O0〜O3) --
 	      開放、ないし、適当なインピーダンス（1kΩ〜1MΩぐらい？）で
	      VDDかGndに接続

・測定対象の出力パッド
 ・No.51 (Co) -- 適当なインピーダンスでVDDかGndに接続？
  以下の入力パターンを、beforeからafterに切り替えた後、何秒(マイクロ秒？)で
  変化するかを測定。

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（立ち上がりの測定）

No. 46, 44, 42, 40 (A3 A2 A1 A0) と
No. 45, 43, 41, 39 (B3 B2 B1 B0) を
まとめて A = 0xf とか B = 0xf のように
十六進で表現します。

(パターン1 - before)
Ci = L
A = 0x0
B = 0x0

(パターン1 - after)
Ci = H
A = 0x0
B = 0xf

--

(パターン2 - before)
Ci = L
A = 0x0
B = 0x0

(パターン2 - after)
Ci = H
A = 0xf
B = 0x0

--

(パターン3 - before)
Ci = L
A = 0x0
B = 0x0

(パターン3 - after)
Ci = H
A = 0x5
B = 0xa

--

(パターン4 - before)
Ci = L
A = 0x0
B = 0x0

(パターン4 - after)
Ci = H
A = 0xa
B = 0x5

========

（立ち下がりの測定）

(パターン1 - before)
Ci = H
A = 0xf
B = 0xf

(パターン1 - after)
Ci = L
A = 0x0
B = 0xf

--

(パターン2 - before)
Ci = H
A = 0xf
B = 0xf

(パターン2 - after)
Ci = L
A = 0xf
B = 0x0

--

(パターン3 - before)
Ci = H
A = 0xf
B = 0xf

(パターン3 - after)
Ci = L
A = 0x5
B = 0xa

--

(パターン4 - before)
Ci = H
A = 0xf
B = 0xf

(パターン4 - after)
Ci = L
A = 0xa
B = 0x5